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半導(dǎo)體四探針電阻率測(cè)試儀方阻儀 可根據(jù)不同材料特性需要，有多種測(cè)試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導(dǎo)電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)試柔性材料導(dǎo)電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率和方阻。